सिद्धांत
क्रिस्टलोग्राफी आधार: इलेक्ट्रॉन बैक - स्कैटरड डिफ्रेक्शन (ईबीएसडी) तकनीक क्रिस्टल विमानों के ब्रैग विवर्तन सिद्धांत पर आधारित है। क्रिस्टल में परमाणु नियमित रूप से व्यवस्थित होते हैं। जब एक इलेक्ट्रॉन किरण क्रिस्टल सतह को विकिरणित करती है, तो विवर्तन घटना तब घटित होगी जब ब्रैग का नियम (जहां अंतर-तलीय अंतर है, विवर्तन कोण है, विवर्तन क्रम है, और इलेक्ट्रॉन किरण की तरंग दैर्ध्य है) संतुष्ट है। स्टील जैसी पॉलीक्रिस्टलाइन सामग्री के लिए, विभिन्न अनाजों में अलग-अलग क्रिस्टलोग्राफिक अभिविन्यास होते हैं।
ओरिएंटेशन इमेजिंग: ईबीएसडी प्रणाली इन विवर्तित इलेक्ट्रॉनों को प्राप्त करके प्रत्येक अनाज के क्रिस्टलोग्राफिक अभिविन्यास को निर्धारित कर सकती है। स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (एसईएम) में, इलेक्ट्रॉन बीम नमूना सतह पर बिंदु-दर-बिंदु स्कैन करता है और प्रत्येक स्कैनिंग बिंदु पर विवर्तन पैटर्न प्राप्त करता है। इन विवर्तन पैटर्न में अनाज अभिविन्यास के बारे में जानकारी होती है और इसे एक छवि के रूप में अनाज अभिविन्यास प्रदर्शित करने के लिए सॉफ्टवेयर द्वारा संसाधित किया जा सकता है, जिसे ओरिएंटेशन इमेजिंग मैप (ओआईएम) कहा जाता है।
अनाज के आकार को मापने का आधार: ओरिएंटेशन इमेजिंग मानचित्र के आधार पर, अनाज की सीमाओं को अलग-अलग झुकाव वाले अनाज को अलग करके निर्धारित किया जा सकता है। चूंकि प्रत्येक अनाज के भीतर अभिविन्यास मूल रूप से समान है, और आसन्न अनाज के बीच एक अभिविन्यास अंतर है, अनाज की सीमाओं को उचित अभिविन्यास अंतर सीमा निर्धारित करके पहचाना जा सकता है। एक बार अनाज की सीमाएं निर्धारित हो जाने पर, अनाज के आकार की गणना की जा सकती है। उदाहरण के लिए, अनाज के आकार को चिह्नित करने के लिए अनाज के समतुल्य गोलाकार व्यास जैसे ज्यामितीय मापदंडों को मापा जा सकता है।

 

 

उपकरण पैरामीटर सेटिंग
त्वरण वोल्टेज सेटिंग: स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप में, स्टील के नमूने के गुणों और विश्लेषण आवश्यकताओं के अनुसार एक उचित त्वरण वोल्टेज सेट किया जाता है। आम तौर पर, स्टील के लिए, त्वरण वोल्टेज को 15 - 30kV के बीच सेट किया जा सकता है। एक उपयुक्त त्वरण वोल्टेज यह सुनिश्चित कर सकता है कि इलेक्ट्रॉन बीम में नमूना सतह में प्रवेश करने और स्पष्ट विवर्तन पैटर्न उत्पन्न करने के लिए पर्याप्त ऊर्जा है।
कार्य दूरी समायोजन: कार्य दूरी इलेक्ट्रॉन गन से नमूना सतह तक की दूरी को संदर्भित करती है और आमतौर पर 10 - 20 मिमी के बीच समायोजित की जाती है। एक उचित कार्य दूरी इलेक्ट्रॉन बीम को अच्छी तरह से केंद्रित करने में सक्षम बनाती है और अच्छे विवर्तन संकेत प्राप्त करने के लिए अनुकूल होती है।
स्कैन चरण चयन: स्कैन चरण दो आसन्न स्कैनिंग बिंदुओं के बीच की दूरी है जब इलेक्ट्रॉन किरण नमूना सतह को स्कैन करती है। बड़े दाने के आकार वाले स्टील के नमूनों के लिए, स्कैन चरण को थोड़ा बड़ा सेट किया जा सकता है, जैसे कि {{0}}μm; छोटे दाने के आकार वाले नमूनों के लिए, प्रत्येक दाने की सटीक पहचान सुनिश्चित करने के लिए स्कैन चरण को छोटा सेट किया जाना चाहिए, उदाहरण के लिए, 0.1 - 1μm।
आंकड़ा अधिग्रहण
नमूना स्थापना: तैयार नमूना स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप के नमूना चरण पर स्थापित किया गया है, यह सुनिश्चित करते हुए कि नमूना मजबूती से तय हो गया है और इसमें अच्छी विद्युत चालकता है।
स्कैनिंग शुरू करें: स्कैनिंग प्रोग्राम शुरू हो गया है, और इलेक्ट्रॉन बीम सेट स्कैन चरण के अनुसार नमूना सतह पर बिंदु-दर-बिंदु स्कैन करता है। प्रत्येक स्कैनिंग बिंदु पर, ईबीएसडी डिटेक्टर विवर्तित इलेक्ट्रॉनों को प्राप्त करता है, उन्हें विद्युत संकेतों में परिवर्तित करता है, और फिर प्रत्येक स्कैनिंग बिंदु के विवर्तन पैटर्न की जानकारी को रिकॉर्ड करने के लिए उन्हें प्रवर्धित और डिजिटलीकृत करता है।

 

 

 

 

 

विशिष्टता हम आपूर्ति करते हैं:

मोटाई	3-200मिमी
चौड़ाई	1500-4000मिमी
लंबाई	5000-15000मिमी

 

 

 

डेटा प्रोसेसिंग और विश्लेषण
पैटर्न अनुक्रमण: एकत्रित विवर्तन पैटर्न डेटा को पहले पैटर्न-अनुक्रमित किया जाना चाहिए, अर्थात, प्रत्येक स्कैनिंग बिंदु के अनुरूप क्रिस्टलोग्राफिक अभिविन्यास निर्धारित करने के लिए ज्ञात क्रिस्टलोग्राफिक डेटाबेस में मानक विवर्तन पैटर्न के साथ तुलना करके। यह प्रक्रिया समर्पित ईबीएसडी विश्लेषण सॉफ्टवेयर के माध्यम से पूरी की जाती है। सॉफ्टवेयर विवर्तन स्थानों की स्थिति और तीव्रता के अनुसार सबसे संभावित क्रिस्टलोग्राफिक अभिविन्यास से मेल खाएगा।
अनाज पुनर्निर्माण: स्कैनिंग बिंदुओं की ओरिएंटेशन जानकारी और सेट ओरिएंटेशन अंतर सीमा (आमतौर पर, स्टील के लिए, ओरिएंटेशन अंतर थ्रेशोल्ड 10 - 15 डिग्री के बीच सेट किया जाता है) के आधार पर, सॉफ्टवेयर का उपयोग अनाज की सीमाओं की पहचान करने और विभाजित करने के लिए किया जाता है एक अनाज में समान या समान अभिविन्यास वाले स्कैनिंग बिंदु, इस प्रकार अनाज के आकार का पुनर्निर्माण करते हैं।
अनाज के आकार की गणना: अनाज के पुनर्निर्माण के बाद, सॉफ्टवेयर में मौजूद उपकरणों का उपयोग अनाज के आकार की गणना के लिए किया जा सकता है। उदाहरण के लिए, प्रत्येक अनाज के क्षेत्र और परिधि जैसे मापदंडों की गणना की जा सकती है, और फिर समतुल्य गोलाकार व्यास और अनाज के आकार को दर्शाने वाले अन्य संकेतकों की गणना की जा सकती है। साथ ही, अनाज के आकार का सांख्यिकीय विश्लेषण भी किया जा सकता है, जैसे औसत अनाज के आकार और अनाज के आकार के वितरण की गणना करना।

 

 

 

 

 

 

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