इलेक्ट्रॉन बैकस्कैटर विवर्तन (ईबीएसडी) विश्लेषण

 

सिद्धांत एवं संचालन: ईबीएसडी तकनीक स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप (एसईएम) पर आधारित एक माइक्रोस्ट्रक्चरल विश्लेषण पद्धति है। यह बैकस्कैटर इलेक्ट्रॉनों के किकुची पैटर्न का पता लगाकर क्रिस्टल अभिविन्यास और अनाज सीमा विशेषताओं को निर्धारित करता है। कंपन तनाव-राहत उपचार से पहले और बाद में एलआर एएच32 स्टील का विश्लेषण करते समय, सबसे पहले, नमूनों को उनकी सतहों को सपाट बनाने के लिए ठीक से तैयार किया जाना चाहिए (जैसे मैकेनिकल पॉलिशिंग और इलेक्ट्रोलाइटिक पॉलिशिंग)। फिर, ईबीएसडी प्रणाली के तहत नमूना सतहों पर क्रिस्टलोग्राफिक जानकारी प्राप्त की जा सकती है।

 

कठोरता पर प्रभाव की मात्रा निर्धारित करने के तरीके:

 

अनाज सीमा विशेषता विश्लेषण: यह अनाज सीमाओं के प्रकार (जैसे उच्च-कोण अनाज सीमाएं और निम्न-कोण अनाज सीमाएं) और उनके वितरण को सटीक रूप से माप सकता है। सामान्यतया, अनाज की सीमाएँ अव्यवस्थाओं की गति को प्रभावी ढंग से बाधित कर सकती हैं। कंपन तनाव - राहत उपचार के बाद, यदि अनाज की सीमाओं का घनत्व बढ़ता है, विशेष रूप से उच्च-कोण अनाज की सीमाओं का अनुपात बढ़ता है, तो अनाज की सीमाओं से गुजरते समय अव्यवस्थाओं को अधिक बाधाओं का सामना करना पड़ेगा, और विरूपण का विरोध करने की सामग्री की क्षमता बढ़ जाएगी, इस प्रकार कठोरता बढ़ सकती है. ईबीएसडी के माध्यम से, अनाज सीमा लंबाई और अनाज सीमा कोण वितरण जैसे मापदंडों को कठोरता पर अनाज सीमा परिवर्तनों के प्रभाव को मापने के लिए गिना जा सकता है।

 

क्रिस्टल ओरिएंटेशन विश्लेषण: यह अनाज के गलत दिशा निर्धारण में सक्षम है। कंपन तनाव-राहत प्रक्रिया के दौरान, क्रिस्टल अभिविन्यास बदल सकता है। यदि अनाज अभिविन्यास अधिक यादृच्छिक हो जाता है या एक अभिविन्यास वितरण बनाता है जो विरूपण को रोकने के लिए अनुकूल है, तो सामग्री की कठोरता भी प्रभावित होगी। उदाहरण के लिए, जब अनाज का उन्मुखीकरण कई दिशाओं में अव्यवस्थाओं की गति को अवरुद्ध कर देता है, तो कठोरता बढ़ जाएगी। कठोरता पर क्रिस्टल अभिविन्यास परिवर्तनों के प्रभाव को गलत अभिविन्यास वितरण फ़ंक्शन जैसे मापदंडों की गणना करके निर्धारित किया जा सकता है।

 

परमाणु बल माइक्रोस्कोपी (एएफएम) विश्लेषण

 

सिद्धांत एवं संचालन: परमाणु बल माइक्रोस्कोपी नमूना सतह पर टिप और परमाणुओं के बीच परस्पर क्रिया बलों का पता लगाकर सतह स्थलाकृति की जानकारी प्राप्त करती है। कंपन तनाव-राहत उपचार से पहले और बाद में एलआर एएच32 स्टील के लिए, नमूने एएफएम के नमूना चरण पर तय किए जाते हैं, और टिप नमूना सतह पर स्कैन करती है। यह नैनोमीटर स्तर पर सतह की खुरदरापन और ऊंचाई भिन्नता के बारे में जानकारी प्रदान कर सकता है।

 

 

 

 

 

 

एलआर/एएच32 उच्च शक्ति संपत्ति
श्रेणी		यांत्रिक संपत्ति			चार्पी वी इम्पैक्ट टेस्ट
	मोटाई	उपज	लचीला	बढ़ाव	डिग्री	ऊर्जा 1	ऊर्जा 2
एलआर/एएच32	मिमी	मिन एमपीए	एमपीए	न्यूनतम %	0	J	J
	t 50 से कम या उसके बराबर	315	440-590	22%		20	31
	50＜t 70 से कम या उसके बराबर	315	440-590	22%		26	38
	70＜t 100 से कम या उसके बराबर	315	440-590	22%		31	46

 

 

 

 

 

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